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電子負載應(yīng)用于檢測設(shè)備測試中
隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動、電源模塊測試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測試設(shè)備。
2012-10-31
電子負載 檢測設(shè)備 測試
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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調(diào)變失真的測量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調(diào)變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調(diào)變失真特性被稱為“被動的相互調(diào)變失真(passive IMD;PIMD)”。當設(shè)計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調(diào)變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設(shè)備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談?wù)勆鲜鑫宕笠蛩亍?/p>
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環(huán)測試電路
輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測試電路
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COG取代LCD，可減少醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫(yī)療中的應(yīng)用日益頻繁，盡管LCD監(jiān)視器與陰極射線管監(jiān)視器相比具有很多優(yōu)勢，但是(COG)技術(shù)是LCD設(shè)計的替代方法，在該技術(shù)中LCD驅(qū)動器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫(yī)療應(yīng)用提供成本和設(shè)計優(yōu)勢。
2012-10-31
COG LCD 醫(yī)療
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眾多專家會診新一代電子產(chǎn)品的雷電浪涌保護難題
新一代電子產(chǎn)品都在向小型化、集成化發(fā)展，自然成本也高，對于電子產(chǎn)品的保護就顯得尤為重要，如果你想獲得最前沿、最有效的雷電浪涌防護方案，不妨看看來自Bourns、AEM、歐神防雷、君耀電子、檳城電子以及深波電子的專家在第十三屆電路保護與電磁兼容技術(shù)研討會上講解了哪些解決方案與設(shè)計訣竅。
2012-10-31
電路保護 電磁兼容 雷電浪涌
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CMOS圖像傳感器飛速提升監(jiān)控畫質(zhì)
在目前的監(jiān)控用高清攝像機產(chǎn)品中，以130萬和200萬像素為主，且200萬及以下像素的產(chǎn)品在傳感器方面以CCD、CMOS平分秋色，200萬像素以上的產(chǎn)品則主要以CMOS為主，但總體而言，高清攝像機在低照度、寬動態(tài)方面的表現(xiàn)仍有待提高。
2012-10-31
CMOS 圖像傳感器 監(jiān)控
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Linear推出支持 IP 的無線傳感器網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品
Linear Dust Networks 產(chǎn)品部推出 SmartMesh LTC5800 (片上系統(tǒng)) 和 LTP5900 (模塊) 系列，這是業(yè)界功耗最低的 IEEE 802.15.4E 兼容型無線傳感器網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品。SmartMesh IC 和模塊使得能夠設(shè)計電池壽命超過 10 年的纖巧型傳感器“mote”(微塵)，而配套的網(wǎng)絡(luò)管理器組件則可開發(fā)出高度穩(wěn)健和安全的無線...
2012-10-30
Linear 無線傳感器網(wǎng)絡(luò) 傳感器
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